N7788B/N7788BD 光元器件分析儀

回收N7788B/安捷倫N7788BD光元器件分析儀

N7788B 光元器件分析儀
N7788BD 光元器件分析儀

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N7788B 光元器件分析儀

光元器件分析儀結(jié)合了偏振控制和偏振計(jì)，用于測(cè)量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延遲（DGD）、PDL 和 IL。

主要特性與技術(shù)指標(biāo)
主要優(yōu)勢(shì)
·通過單次掃描實(shí)現(xiàn)*高精度： 無需通過多次掃描計(jì)算平均值
·高測(cè)量速度
·10 秒之內(nèi)即可完成 C/L 頻帶中的完整測(cè)量（無需等待多個(gè)平均值）
·穩(wěn)定性不受光纖移動(dòng)/振動(dòng)和漂移的影響
描述
安捷倫制定了使用 N7788B 元器件分析儀進(jìn)行元器件測(cè)量的限制， 其專有技術(shù)可與有名的瓊斯矩陣本征法（JME）相媲美，瓊斯矩陣本征法是測(cè)量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群時(shí)延（DGD）的標(biāo)準(zhǔn)方法。

N7788BD

N7788BD 光元器件分析儀

光元器件分析儀結(jié)合了偏振控制和偏振計(jì)，用于測(cè)量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延遲（DGD）、PDL 和 IL。 N7788BD 具有內(nèi)置的觸摸屏 PC。

描述
Agilent Technologies pushes the limits of component measurements with the N7788BD Component Analyzer. Its proprietary technology is comparable with the well-known Jones-Matrix-Eigenanalysis (JME) which is the standard method for measuring Polarization Mode Dispersion (PMD) or differential group delay (DGD) of optical devices.

Agilent’s new single scan technology offers a range of advantages to test a complete set of parameters:

·DGD/ PMD
·PDL
·Power / Loss
·TE / TM-Loss
·2nd-order PMD
·Principal States of Polarization (PSPs)
·Jones and Mueller Matrices

公司還回收以下儀器，誠(chéng)信回收：

測(cè)量接收機(jī) R&S FSMR
信號(hào)源分析儀 R&S FSUP
寬帶分析儀 R&S FMU36
信號(hào)分析儀 R&S FSG
實(shí)時(shí)頻譜分析儀 R&S FSVR
信號(hào)分析儀 R&S FSV
頻譜分析儀 R&S FSL
頻譜分析儀 R&S FSP

頻譜分析儀 R&S FSH4/8
手持式頻譜儀 R&S FSH3/18
頻譜分析儀 R&S FSC
功率計(jì) R&S NRP2
功率探頭R&S NRP-Z
雙通道功率計(jì)R&S NRVD
\功率探頭R&S NRV-Z

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備注：公司長(zhǎng)期高價(jià)|現(xiàn)金回收頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)產(chǎn)生器、示波器、萬用表、功率計(jì)、LCR測(cè)量?jī)x、手機(jī)綜合測(cè)試儀、各類通訊測(cè)試儀器及光通信儀器等電子儀器量表，如有閑置，待處理的儀器，歡迎隨時(shí)來電咨詢！